本文標題:顯微檢測時干涉色與光程差的關(guān)系
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-10-12 16:20:57
顯微檢測時干涉色與光程差的關(guān)系
干涉色在偏光顯微進行顯微檢測時干涉色與光程差
的關(guān)系，會由于白光干涉而形成，這樣就可以說干
涉色的顏色決定了光程差的。
因此我們可以說干涉色的級別的高低決定了光程差
的大小，而光程差的大小則隨著光片的厚度和折射
率的大小而進行變化。
因而我們又可以說干涉色的級別高低取決于晶體檢
測時的晶片的厚度與折射率的大小。
同時對于不同晶體的厚度所表現(xiàn)的干涉色是不同的
，而晶體的折射率的不同，同時也決定了干涉色的
不同。
因此我們對于干涉的級別進行作圖表說明，這就是
人們所說的色譜表。
將本頁加入收藏
下一篇：現(xiàn)代分析儀器的發(fā)展及發(fā)展趨向
上一篇：偏光顯微鏡檢測時出現(xiàn)的干涉現(xiàn)象
本文出自上海永亨光學儀器有限公司，本文地址：http://m.jxrosim.cn/xinwen/1880.html
工業(yè)顯微鏡測量顯微鏡視頻顯微鏡專業(yè)的供應(yīng)商
合作伙伴：http://www.xianweijing.org/顯微鏡百科
- 沒有資料
